测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:02-27 2021 来自:祥宇精密
很多行业都需要测量产品的平面度,不同的行业可能需求不一样,下面是祥宇小编为大家整理的几种常用的平面度测量方法,希望能对你有用。
平面度,是属于形位公差中的一种,指物体表面具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。在传统的检测方法中,平面度的测量通常有:塞规/塞尺测量法、液平面法、激光平面干涉仪测量法、水平仪/数字水平仪测量法、以及打表测量法。
塞尺测量法,只需一套可随身携带的塞尺就可随时随地进行平面度的粗测。目前很多工厂仍使用该方法进行检测。由于其精度不高,常规最薄塞尺为10um,检测效率较低,结果不够全面,只能检测零件边缘。
液平面法,基于连通器工作原理,适合测量连续或不连续的大平面的平面度,但测量时间长,且对温度敏感,仅适用于测量精度较低的平面。
激光平面干涉仪测量法,最典型的用法是平晶干涉法。但主要于测量光洁的小平面的测量,如千分头测量面,量规的工作面,光学透镜。
水平仪测量法,广泛用于工件表面的直线度和平面度测量。测量精度高、稳定性好、体积小、携带方便。但是用该方法测量时需要反复挪动仪器位置,记录各测点的数据,费时、费力,调整时间长,数据处理程序繁琐。
打表测量法,典型应用为平板测微仪及三坐标仪,其中优以三坐标仪为应用最广泛。测量时指示器在待测样品上移动,按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据,再经过数据处理评定出平面度误差。但其效率较低,通常一个样品需要几分钟,离15ppm的期望相差甚远。
激光测量仪:祥宇新开发平面度测量仪 ULTRA 系列,提供卓越的测量表现和性能。全系标配高精度直线导轨,采用新型传动使用专利技术,提供稳定的传动表现和测量精度.人性化的人机界面,配专用全自动平面测量软件,可编程自动检测,大大提高测量效率,可以快速测量平整度,很多行业都在用祥宇新开发的平面度检测仪,大大节约人工成本,提供测量效率以及检测精度。
祥宇计量是专业的二次元测量仪方案提供商,欢迎有需要的朋友来电咨询详谈。
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